Týždeň vedy a techniky 2015 - Nanometrológia
Interferometrické meracie metódy s laserom, ako zdrojom žiarenia predstavujú najpresnejší nástroj merania nielen dĺžky, ale aj ostatných rozmerových (geometrických) veličín s priamou nadväznosťou na základný etalón dĺžky. Meranie malých rozmerov, v mikro- a nanosvete prinášarad problémov a vyžaduje použitie nových prístupov a konceptov pri návrhoch a konštrukcii meracích systémov. Preto je nanometrológia novým a svojbytným odborom.
Zobrazovanie mikro- a nanoštruktúr technikami mikroskopie nám dáva informácie o tvare a tiež vlastnostiach skúmaných objektov, ale ešte len kombináciou s meracími metódami môžeme malé rozmery tiež merať. V prednáške budú popísané vlastnosti svetla lasera, interferencie a jeho využitia pre meranie a techniky, ktoré umožňujú dosiahnuť rozlíšenie a presnosti pod úroveň jedného nanometra. Prednášal prof. Ing. Josef Lazar, Dr..
Viac informácií nájdete na:
